（1）在外延片的均勻度得到控制以前，研發快速低成本芯片分選工藝和設備。

　　（2）隨著W級功率LED技術的發展，傳統LED產品參數檢測標準及測試方法已不能滿足照明應用的需要，須開發全新的測試標準和方法，包含更多的與照明相關的光學內容。

　　（3）在LED系統壽命測試中，研發LED系統的長期性能和壽命快速測定評價技術。

　　（4）照明用LED是處于大電流驅動下工作，這就對其提出更高的可靠性要求。傳統LED的篩選方式不合適照明用大功率LED,必須開發新的篩選試驗辦法，剔除早期失效品，保證產品的可靠性。